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      光電技術實驗設備

      簡要描述:MXY8003光電技術實驗設備是由光學導軌、數字儀表及電子元器件平臺、52單片機設計組件及CCD設計組件等部分構成,儀器配備各種電源接口及0-200V 高壓可調電源和0-12V低壓可調電源,可為學生搭建各種實驗電路提供電源。

      • 產品型號:MXY8003
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-07-10
      • 訪  問  量:3138

      詳細介紹

      MXY8003 光電技術綜合實訓平臺

      一、 產品介紹

        光電技術實驗設備是由光學導軌、數字儀表及電子元器件平臺、52單片機設計組件及CCD設計組件等部分構成,儀器配備各種電源接口及0-200V 高壓可調電源和0-12V低壓可調電源,可為學生搭建各種實驗電路提供電源。學生能夠利用平臺自行搭建各種光學系統、光電傳感器的變換及處理電路,完成各種關于光電技術方面的應用開發設計,從各方面提高學生的動腦動手能力及創新意識,幫助高校培養光電技術人才。

      1、光學導軌:可利用導軌滑塊自行調節光學配件的距離,配合電子元器件搭建出幾何光學、物理光學、光電檢測與光電控制等系統,并與儀器內部的數據采集系統相結合完成各種實驗系統。

      2、數字儀表平臺:平臺提供兩塊數字電壓表(四位半),2塊數字電流表(四位半)和1塊自動更換量程的數字照度計,這些數字儀表可以應用在電路中進行各種電路參數的測量。

      3、電阻、電容 及器件平臺:此平臺配備各種電阻、電容、二極管、三極管、集成運算放大器、光電耦合器件,學生在此平臺靈活搭建電路來完成實驗。

      4、52單片機程序下載平臺:學生在此平臺來完成有關單片機方面的設計實驗也可做畢業設計、創新設計。

      5、線陣CCD驅動電路平臺:學生在此平臺自行設計線陣CCD驅動電路。

      6、現場可編程邏輯器件(CPLD)設計平臺:通過CPLD進行開發設計,提高學生動腦能力。7、計算機功能軟件:平臺配備有各種功能軟件,包括線陣CCD尺寸測量、角度測量、位移測量、條碼識別、圖像掃描軟件,面陣CCD邊緣與輪廓檢測、物體的尺寸測量、圖像的點運算、圖像的幾何變換、圖像采集與參數設置、投影與差影圖像分析、圖像的濾波與增強、形態學處理、旋轉與縮放、顏色識別與變換等圖像處理軟件。不但提供DEMO演示軟件還提供SDK軟件開發包,供學生進行二次開發。

      二、教學目的

      1、了解并掌握各種光學配件及其實驗的原理和應用;

      2、了解并掌握各種光電傳感器的工作原理、變換電路、處理電路;

      3、了解并掌握52單片機程序編寫;

      4、了解并掌握52單片機外圍電路設計;

      5、了解CPLD的應用開發技術;

      三、配置內容

      光電二極管2只;光電三極管2只;光敏電阻2只;硅光電池1只;發光二極管R、G、BW四色各1只;PIN光電二極管1只;雪崩光電二極管(APD)1只;UVM-30A紫外線探測傳感器1只; LED點光源裝置1支; 光電器件安裝裝置2件;熱釋電實驗裝置1件;PSD實驗裝置1件;光柵莫爾條紋實驗裝置1件;四象限光電傳感器及實驗裝置1套;線陣CCD相機及夾持器1套;彩色面陣CCD相機與相機夾持器1套; USB2.0接口8位A/D線陣CCD數據采集卡1塊50mm相機鏡頭1個彩色面陣CCD圖像采集卡1塊;面陣CCD圖像采集標準圖片及夾持裝置1套;尺寸測量實驗裝置1件;傾角測量實驗裝置1件;條形碼識別實驗裝置1件;振動實驗裝置1件;52單片機開發系統裝置1套;白色遠心照明光源1只;650nm點型3mw半導體激光器1只;650nm線型3mw半導體激光器1只;圖像掃描實驗裝置1件;導軌固定底座4個;導軌底座支撐桿4個;一維調整架1個;二維調整架1個;三維調整架1個;100mm、200mm、300mm400mm 500mm連接線各5顆;φ2.1mm插頭的連接線3顆;

      四、能夠完成下述實驗內容:

      光電技術方面實驗

      1、光敏電阻特性參數及其測量;

      2、光敏電阻伏安特性實驗;

      3、光敏電阻的變換電路;

      4、光敏電阻時間響應特性;

      5、光電二極管光照靈敏度的測量;

      6、光電二極管伏安特性的測量;

      7、光電二極管時間響應特性的測量;

      8、硅光電池在不同偏置狀態下的特性參數及其測量

      9、測量硅光電池在反向偏置下的時間響應;

      10、光電三極管光照靈敏度的測量;

      11、光電三極管伏安特性的測量;

      12、光電三極管時間響應的測量;

      13、光電三極管光譜特性的測量;

      14、光電耦合器電流傳輸比的測量;

      15、光電耦合器件伏安特性的測量;

      16、光電耦合器件時間相應的測量;

      17、熱釋電器件基本原理實驗;

      18、熱釋電器件光譜響應的測試實驗;

      19、PSD位移傳感器特性參數的測量;

      20、四象限光電傳感特性實驗;

      21、雪崩光電二極管(APD)特性實驗;

      22、PIN光電二極管特性實驗;

      23、紫外線探測傳感器特性參數測量實驗;

      24、紫外線強度測量實驗;

      25、紫外線驗鈔機原理實驗 ;

      26、線陣CCD驅動系統設計實驗;

      27、太陽能電池實驗;

      28、光電測距實驗;

      29、光調制解調實驗;

      光電檢測技術實驗

      1、線陣CCD 原理與驅動特性

      2、線陣CCD 輸出特性的測量

      3、利用線陣CCD 進行物體外形尺寸的測量

      4、線陣CCD 的A/D 數據采集

      5、用軟件提取邊緣信號的二值化

      6、利用線陣CCD 測量物體的傾斜角度

      7、條形碼的測量與識別實驗

      8、用線陣CCD 測量物體的振動

      9、利用線陣CCD 進行圖像掃描

      10、光柵與莫爾條紋實驗;

      11、面陣CCD原理與驅動實驗;

      12、利用面陣CCD測量物體外形尺寸;

      13、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓;

      14、利用面陣CCD進行圖像采集與參數設置;

      15、利用面陣CCD進行投影與差影圖像分析;

      16、利用面陣CCD進行圖像的濾波與增強;

      17、利用面陣CCD進行形態學處理;

      18、利用面陣CCD進行物體的旋轉與縮放;

      19、利用面陣CCD對顏色識別;

      20、利用面陣CCD進行圖像信息的點運算;

      21、利用面陣CCD進行圖像的幾何變換;

      22、利用面陣CCD進行數據采集實驗;

      (一)二次開發實驗(52單片機開發實驗)

      1、52單片機程序編寫實驗;

      2、52單片機外圍電路設計實驗;

      3、基于52單片機的數字時鐘設計實驗;

      (二)CPLD應用技術方面的實驗

      1、編寫與設計時鐘邏輯電路實驗;

      2、編寫與設計2160像元的線陣CCD驅動電路實驗;

      3、編寫與設計線陣CCD二值化數據采集系統邏輯電路;

      五、 光電技術實驗設備配套文件資料

      1、實驗指導書1本;

      2軟件:平臺軟、硬件使用手冊等內容;

      3、實驗錄像光盤1套 ;

       

      備注:客戶自行配置示波器。

       

       

       

       

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